Ökosystem für qualifizierte ASIC-Entwicklung und Supply Chain Services

Benötigen Sie langfristig verfügbare hohe Funktionalität, Zuverlässigkeit und Performance Ihres Systems? Dann sind anwendungsspezifische integrierte Schaltungen (ASICs) die optimale Lösung! Denn ASICs bieten in vielen Anwendungen entscheidende Vorteile gegenüber diskreten Lösungen mit Standardkomponenten. Sie ermöglichen geringe Systemkosten, schützen effektiv vor Plagiaten und sichern so Ihr eigenes Know-How.

Gerade für mittelständische Unternehmen ist ein deutlich anderer Entwicklungs­ablauf für ASICs im Gegensatz zu diskreter Elektronik eine große Hürde. Die Entwicklung und Fertigung von Prototypen dauert wesentlich länger und eine Korrektur mit dem Lötkolben ist nicht möglich. Für den fehlerfreien Schaltungsentwurf werden unter anderem Expertenwissen und komplexe Software-Tools benötigt.

In diesem Workshop präsentiert das Fraunhofer IIS mit seinen beiden Kooperationspartnern, ams und RoodMicrotec, seine Kompetenzen und Leistungen, mit denen es seine Kunden gemeinsam bei der ASIC-Entwicklung von der Idee bis zum qualifizierten Serienprodukt begleitet:

  • ams als Halbleiter-Hersteller mit zuverlässigen CMOS-Prozessen (180 nm und 350 nm),
  • das Fraunhofer IIS als Entwickler anwendungsspezifischer integrierter Schaltungen und Systeme,
  • RoodMicrotec als Anbieter von Testlösungen, Qualifikationen nach etablierten Standards, Supply Chain Management sowie Technologie- und Fehleranalyse (RMA - Return Material Analysis).

Der Workshop richtet sich an Produktmanager, Geschäftsführer, Entwickler und QM-Beauftragte.

Die Seminarthemen im Detail

09:45 – 10:00 Uhr: Begrüßung

                                       Dr. Norbert Werber, Fraunhofer IIS

 

10:00 – 10:45 Uhr: Supply Chain und Technologien für die
                               ASIC-Produktion

                                        Rene Kautschitsch, Dr. Jerzy Kudlaty, ams

                                        - Supply Chain Management für industrielle und Automotive-
                                          Applikationen
                                        - Technologien für Sensoren und Sensor-Interface-Schaltungen                                         

10:45 – 11:30 Uhr: Mixed-Signal ASIC-Design am Fraunhofer IIS

                                        Dr. Volker Peters, Fraunhofer IIS

                                        - Entwicklungsspektrum des IIS für integrierten Schaltungsentwurf
                                        - Kriterien zur Verwendung von ASICs
                                        - Mixed-Signal Design Flow
                                        - Designdienstleistungen des IIS

11:30 – 11:45 Uhr: Pause

11:45 – 12:30 Uhr: IP- und Testeinbau, erste Prototypen und
                               Serienüberführung

                                        Norbert Schuhmann, Fraunhofer IIS    

                                       - Überblick über IIS-IPs und andere verfügbare IPs
                                       - Einbau der IPs in die Schaltung
                                       - Einbau von Testfunktionen
                                       - Place & Route-Services

                               Fertigung von Prototypen und Kleinserien

                                        Thomas Drischel, Fraunhofer IIS

                                       - Multi Project Wafer Runs mit langjährigen Foundry-Partnern
                                       - Einbau der IPs in die Schaltung
                                       - Vom Prototyp bis zur Serieneinführung

 

12:30 – 13:15 Uhr: Vom Design zum fertigen ASIC

                                        Reinhard Pusch, RoodMicrotec

                                        - Anforderungen und Schriftte für eine schnelle und kostengünstige
                                          Umsetzung von Testspezifikation zur fertigen Test-Soft- und
                                          Hardware                                                           

                              Supply Chain Management

                                       - Darstellung von Lösungen von der Idee zur Industrialisierung
                                       - Auswahl des richtigen Packages für die Applikation
 

13:15 – 14:15 Uhr: Mittagspause

14:15 – 15:00 Uhr: More than Silicon

                                        Helmut Hofstätter, ams

                                        - Kundenspezifische Prozessanpassungen für die Integration von
                                          Sensoren
                                        - 3D-Integration von Sensoren  mit Through-Silicon-Vias
                                        - Optische Sensoren

 

15:00 – 15:45 Uhr: Von der Ausfallanalyse zur Anamnese und
                               Rückkopplung auf Qualifikation von Bauteil
                               und Baugruppe

                                        Jürgen Gruber, RoodMicrotec

                                       - Möglichkeiten der Fehleranalyse
                                       - Zuverlässigkeitstests z.B. nach Automobil- und anderen internationalen
                                         Standards
                                       - Robustness Validation

15:45 – 16:00 Uhr: Pause

Ca. 16:00 Uhr: Diskussion & Networking

Begleitend: Table Top Exhibition

Ende der Veranstaltung gegen 17:00 Uhr

Datum: 24. Oktober 2017

Anmeldeschluss: 11. Oktober 2017

Veranstaltungsort:
Fraunhofer IIS
Am Wolfsmantel 33
91058 Erlangen

Anfahrt

Kurssprache: Deutsch

Teilnahmegebühr: 390,- Euro inklusive Verpflegung und Seminarunterlagen

Anmeldung

Bitte nutzen Sie hierfür das elektronische Anmeldeformular.