»XXL bis Nano« – von ganz groß bis ganz klein reicht das Spektrum des Fraunhofer-Entwicklungszentrums Röntgentechnik EZRT, einer gemeinsamen Abteilung des Erlanger Fraunhofer IIS und des Saarbrücker Fraunhofer IZFP. So entwickeln die Forscher Verfahren im Bereich der zerstörungsfreien Analyse und Prüfung neuer Materialien, etwa für die Luft- und Raumfahrt oder die Automobilindustrie – und künftig auch für die Untersuchung von neuartigen Lichtquellen.

Ziel des vom BMBF geförderten Projekts ist die Entwicklung innovativer Methoden zur Qualitätssicherung von Leuchtdioden. »Mit dem Start dieses ambitionierten Projekts zur Prüfung von LED-Wafern gehen wir einen wichtigen Schritt in Richtung Etablierung der LED-Technologie. Denn erst eine hochpräzise und schnelle Prüfung dieser Chips im Produktionsprozess wird zukünftig eine deutlich kostengünstigere Herstellung ermöglichen,« so der Parlamentarische Staatssekretär Thomas Rachel in Fürth.

Innerhalb des Projekts arbeiten die Fraunhofer-Forscher an der Machbarkeit neuer Prüfmethoden für die industrielle Fertigung von Leuchtdioden (LEDs), die damit noch kostengünstiger und effektiver ablaufen kann. Dazu entwickeln sie Röntgentechniken und erforschen eine Prüfung mittels Thermographie. Dies bedeutet den Einstieg in eine in diesem Bereich völlig neue Methode zur Qualitätssicherung.