Mit RFID & Co. zum Erfolg – Anwenderkonferenz des Zentrums für Intelligente Objekte ZIO
Barcode, RFID, drahtlose Sensornetze und Lokalisierungstechnologien helfen, Unternehmensprozesse zu verbessern. Auf der ZIO-Anwenderkonferenz am 25. April 2013 am Fraunhofer IIS in Nürnberg treffen sich Anwender und Experten zum Austausch über diese Technologien. Kooperationspartner der Veranstaltung sind der Industrieverband AIM-D, das Bayerische IT-Logistikcluster, die Industrie- und Handelskammer Nürnberg für Mittelfranken und das Automation Valley Nordbayern.
Lokalisierungstechnologie im Sport, drahtlose Sensornetze zur Gebäudeauto-matisierung, Real Time Locating-Systeme (RTLS) zur Fahrzeug-Logistik sowie RFID-Anwendungen in der Produktion – die Einsatzmöglichkeiten der Technologien RFID & Co. sind vielfältig. Auf der Konferenz präsentieren wir aktuelle Erfahrungen aus der Praxis, unter anderem wie RFID und andere Lokalisierungstechnologien erfolgreich in Unternehmensprozesse integriert werden. Anwender, Technologielieferanten und Systemintegratoren referieren gemeinsam und stellen erfolgversprechende Aspekte ihrer Kooperationen vor.
Bei Demonstrationen im Test- und Anwendungszentrum L.I.N.K. und in den Laboren des Fraunhofer-Institutes IIS können die Teilnehmer RFID & Co. live erleben und sich von den Potenzialen des Technologieeinsatzes überzeugen.
Donnerstag, 25. April 2013, 9:45 – 17:15 Uhr,
Fraunhofer IIS, Forum im Park, Nordostpark 89, 90411 Nürnberg
Auf der Webseite finden Interessierte auch das Formular zur Anmeldung. Die Teilnahmegebühr beträgt 120 Euro inklusive Tagungsunterlagen und Catering.
Zentrum für Intelligente Objekte ZIO
Das Zentrum für Intelligente Objekte ZIO bringt Technologien für intelligente Objekte in die Praxis. Für Anwender, Anbieter und Systemintegratoren von modernen Identifikations-, Kommunikations- und Ortungstechnologien analysieren die Mitarbeiter neutral Markt, Kosten und Nutzen, beraten über Einsatz- und Optimierungsmöglichkeiten und entwickeln Produkte und Services anwendungsorientiert weiter.