Fraunhofer-Institut für Integrierte Schaltungen IISLebensdauer elektronischer Baugruppen im Auto kann sich auf 25 bis 35 Jahre erhöhen
Elektronische Systeme in Autos und Flugzeugen werden immer anspruchsvoller, komplexer und kleiner. Diese Miniaturisierung bringt allerdings eine größere Empfindlichkeit von elektronischen Komponenten gegenüber äußeren Belastungen mit sich.
Im Projekt »RESIST« haben wir gemeinsam mit weiteren Partnern Konzepte erforscht, wie besonders leistungsfähige mikro- und nanoelektronische Bauteile sehr zuverlässig und robust konstruiert werden können. Wir haben zum einen neuartige Ansätze erarbeitet, die schon während der Designphase eines Mikrochips oder eines Systems eine Prognose des Verhaltens im späteren Betrieb erlauben. Zusätzlich wurden spezielle Chipbestandteile entwickelt, die drohendes Versagen durch Verschleiß rechtzeitig erkennen und dem Fahrzeugführer oder Wartungsservice gemeldet werden können. Darüber hinaus schützen neuartige, robuste Bauelemente Schaltungen in besonderem Maße vor elektrostatischen Entladungen, die zu einer verkürzten Lebensdauer der Elektronik führen können. Die Summe der Maßnahmen unterstützt wesentlich das Ziel, die Lebensdauer und Ausfallsicherheit elektronischer Baugruppen in künftigen Automobil- und Luftfahrtanwendungen von heute 10 bis 15 auf zukünftig 25 bis 35 Jahre zu erhöhen.