Fraunhofer-Institut für Integrierte Schaltungen IIS
Weiterentwickeltes NanoCT-System ermöglicht Anwendern noch schnellere Scans
Die stetige Miniaturisierung von Elektronik und Mechanik eröffnet völlig neuartige konstruktive Möglichkeiten und Verfahren, bringt jedoch auch ein Problem mit sich: Werkstoffe und Bauteilkomponenten sind mittlerweile oftmals zu fein und komplex, um mit herkömmlichen Methoden untersucht werden zu können.
Um auch diesen speziellen Anforderungen seitens der Industrie gerecht zu werden, haben Forschende am Fraunhofer-Entwicklungszentrum für Röntgentechnik EZRT ein auf der Nano-Computertomographie basierendes System entwickelt. Das »ntCT« ist in der Lage, Messzeiten von nur wenigen Stunden für einen kompletten CT-Scan mit einer Abtastung von bis zu 50 Nanometern und einer Auflösung unter 200 Nanometern zu realisieren.
In Kooperation mit dem Systemintegrator ProCon X-Ray ist diese Anlage für die zerstörungsfreie Materialprüfung nun kommerziell verfügbar.
»ntCT«-Anlagen arbeiten mithilfe einer Röntgenröhre der neuesten Generation. Im Vergleich zur ersten Generation des Systems aus dem Jahr 2018 konnten die Messzeiten trotz gleichbleibender, hervorragender Auflösung deutlich reduziert werden. Diese Eigenschaften machen es vor allem für Industriekunden interessant, welche das System zu Prüfzwecken in ihre Produktionsumgebung integrieren möchten.
»Dank der speziell für die Anlage entwickelten Steuerungssoftware können wir Industriekunden eine vollwertige Analyseumgebung anbieten«, ergänzt Dr. Christian Fella, Leiter der Gruppe »NanoCT Systeme«.